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ICP-MS是什么

更新時(shí)間:2023-06-28   點(diǎn)擊次數(shù):1356次
ICP-MS由高溫離子源(等離子體)、質(zhì)譜儀(通常是四極桿質(zhì)量過(guò)濾器)和檢測(cè)器組成。等離子體處于大氣壓下,質(zhì)譜儀和檢測(cè)器位于真空室中,因此ICP-MS還需要一個(gè)接口和離子透鏡傳遞離子通過(guò)系統(tǒng)?;驹恚簩⒁后w樣品泵入霧化器形成氣溶膠,再隨氣流進(jìn)入等離子體。等離子體是一種高溫電火花,可蒸發(fā)樣品材料,然后使元素原子化和離子化。離子通過(guò)一個(gè)接口進(jìn)入真空室,再通過(guò)離子透鏡和碰撞/反應(yīng)池 (CRC) 與光子、中性粒子、干擾離子分離。分析物離子由四極桿質(zhì)量過(guò)濾器分選,每個(gè)質(zhì)量都被傳遞到檢測(cè)器進(jìn)行計(jì)數(shù)。ICP-MS儀器所使用的等離子體除了方位和線(xiàn)圈接地方式外,與發(fā)射光譜中使用的基本相同。所使用的質(zhì)量分析器、離子檢測(cè)器和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)又與四極桿GC-MS儀器相類(lèi)似。
試樣是在常壓下引入,外部離子源,即離子并不處在真空中;等離子體的溫度很高,使試樣完全蒸發(fā)和解離;試樣原子電離的百分比很高;產(chǎn)生的主要是一價(jià)離子;離子能量分散??;離子源處于低電位,可配用簡(jiǎn)單的質(zhì)量分析器。正因?yàn)镮CP-MS具有優(yōu)良的分析性能,稱(chēng)為元素分析中重要的分析技術(shù)之一。
ICP-MS技術(shù)具備更低的檢出限、更寬的動(dòng)態(tài)線(xiàn)性范圍、更少的干擾、較高的分析精密度和分析速度等優(yōu)點(diǎn),并可提供精確的同位素信息。
 

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